QLC-200 数显式磁性测厚仪
本仪器适用于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。
主要技术参数:
1、测量范围 : 0~200μm 2、测量精度 : ±(0.7μm+3%H)*H为标
执行标准GB/T1764-89、GB/T13452.2-92、ISO2808-7